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德國InfraTec Thermal 鎖相紅外熱成像系統熱成像顯微鏡-1280(中波制冷型)
微米級芯片瞬態熱特性測試系統用于測量芯片瞬態結溫、熱阻組成、熱容組成等熱特性參數。系統主要構成包括:紅外熱像儀、熱阻測試臺、電源、數據采集及分析系統(工作站電腦)、恒溫臺等。
型號:
E-LIT
發布時間:2024-05-19
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